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Relatorio tecnico
Porous silicon processing for enhancing thin silicon membranes fabrication (2003)
Dantas, Michel Oliveira da Silva; Galeazzo, Elisabete ; Peres, Henrique Estanislau Maldonado ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Unidade: EP
Subjects: MICROELETRÔNICA, SILÍCIO
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ABNT
DANTAS, Michel Oliveira da Silva et al. Porous silicon processing for enhancing thin silicon membranes fabrication. . São Paulo: EPUSP. . Acesso em: 20 maio 2024. , 2003
APA
Dantas, M. O. da S., Galeazzo, E., Peres, H. E. M., & Ramírez Fernandez, F. J. (2003). Porous silicon processing for enhancing thin silicon membranes fabrication. São Paulo: EPUSP.
NLM
Dantas MO da S, Galeazzo E, Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Porous silicon processing for enhancing thin silicon membranes fabrication. 2003 ;[citado 2024 maio 20 ]
Vancouver
Dantas MO da S, Galeazzo E, Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Porous silicon processing for enhancing thin silicon membranes fabrication. 2003 ;[citado 2024 maio 20 ]
Relatorio tecnico
Polarization effect on Raman scattering and photoluminescence spectra in porous silicon layer (1999)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Unidades: EP, IQ
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Polarization effect on Raman scattering and photoluminescence spectra in porous silicon layer. . São Paulo: EPUSP. . Acesso em: 20 maio 2024. , 1999
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1999). Polarization effect on Raman scattering and photoluminescence spectra in porous silicon layer. São Paulo: EPUSP.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Polarization effect on Raman scattering and photoluminescence spectra in porous silicon layer. 1999 ;[citado 2024 maio 20 ]
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Polarization effect on Raman scattering and photoluminescence spectra in porous silicon layer. 1999 ;[citado 2024 maio 20 ]
Relatorio tecnico
Characterization of porous silicon by photoluminescence, ellipsometric and micro-Raman spectroscopies (1999)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Unidades: EP, IQ
Assunto: MICROSCOPIA ELETRÔNICA
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Characterization of porous silicon by photoluminescence, ellipsometric and micro-Raman spectroscopies. . São Paulo: EPUSP. . Acesso em: 20 maio 2024. , 1999
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1999). Characterization of porous silicon by photoluminescence, ellipsometric and micro-Raman spectroscopies. São Paulo: EPUSP.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Characterization of porous silicon by photoluminescence, ellipsometric and micro-Raman spectroscopies. 1999 ;[citado 2024 maio 20 ]
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Characterization of porous silicon by photoluminescence, ellipsometric and micro-Raman spectroscopies. 1999 ;[citado 2024 maio 20 ]
Relatorio tecnico
Photonic band structure of periodic-like porous silicon (1999)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Unidades: EP, IQ
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Photonic band structure of periodic-like porous silicon. . São Paulo: EPUSP. . Acesso em: 20 maio 2024. , 1999
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1999). Photonic band structure of periodic-like porous silicon. São Paulo: EPUSP.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Photonic band structure of periodic-like porous silicon. 1999 ;[citado 2024 maio 20 ]
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Photonic band structure of periodic-like porous silicon. 1999 ;[citado 2024 maio 20 ]
Relatorio tecnico
Polarization effects on the Raman and photoluminescence spectra of porous silicon layers (1999)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Unidades: EP, IQ
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Polarization effects on the Raman and photoluminescence spectra of porous silicon layers. . São Paulo: EPUSP. . Acesso em: 20 maio 2024. , 1999
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1999). Polarization effects on the Raman and photoluminescence spectra of porous silicon layers. São Paulo: EPUSP.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Polarization effects on the Raman and photoluminescence spectra of porous silicon layers. 1999 ;[citado 2024 maio 20 ]
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Polarization effects on the Raman and photoluminescence spectra of porous silicon layers. 1999 ;[citado 2024 maio 20 ]

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